측정 데이터를
판단 가능한 결과로.
Chip/Wafer, 3D Surface, 2D Image, Signal 데이터를 하나의 Windows 환경에서 분석합니다.
필요한 분석을 하나의 흐름으로
데이터 열기부터 ROI, Processing, 결과 확인과 Export까지 일관된 화면에서 수행합니다.
Chip Analyzer
Chip Map과 ROI 기반 Wafer 분석.
PV · WPG · BOW · Statistics3D Surface
표면 형상과 Profile·Filter 분석.
Viewer · Roughness · Batch2D Metrology
이미지 기반 Object·CD·Height 측정.
ROI · Threshold · MeasurementSignal Analysis
Peak·FFT·다중 Signal 비교.
Detect · Band · Compare현장 데이터는 현장 PC에서 처리합니다.
측정 원본과 분석 결과를 핵심 분석 과정에서 외부 서버로 필수 전송하지 않습니다.
Offline-capable
제한망에서도 핵심 분석 기능을 사용합니다.
Original protected
분석 처리와 원본 파일 관리를 분리합니다.
Engineering output
지표·통계·Report를 한 흐름으로 정리합니다.
실제 프로그램 화면을 웹에서 확인합니다.
화면 전환, 확대·축소와 드래그 이동으로 주요 분석 모듈을 살펴볼 수 있습니다.
